偏光顯微鏡是研究晶體薄片的重要設(shè)備

     在偏光顯微鏡下鑒定透明礦物時，所遇到的都是礦物晶體不同方向的切面(即不同方向的光率體切面)。光波垂直這類斜交切面入射(陳光軸和主軸以外的任意方向)時，發(fā)生雙折射，分解形成個偏光。其振動方向分別平行橢圓長短半徑方向;折射率值分別等于長短半徑。

      雙折射率等于長短半徑之差，其大小變化介于零與最大值之間。光率體的主軸與晶體結(jié)晶軸之間的關(guān)系稱光方位。光方位因晶體所屬的晶系不同而異。破石機(jī)生產(chǎn)廠家中級晶族晶體的光方位：一軸晶光率體是一個旋轉(zhuǎn)橢球體，其旋轉(zhuǎn)軸(光軸)與晶體的高次對稱軸一致(圖 )。三斜晶系的對稱程度最低，只有 個對稱中心與光率體的對稱中心相當(dāng)。

         因而三斜晶系晶體的光方位是光率體的 個主軸與晶體的個晶軸均斜交，其斜交角度因礦物不同而不同(圖 )。偏光顯微鏡是研究晶體薄片光學(xué)質(zhì)的重要儀。它比一般顯微鏡復(fù)雜，最主要的區(qū)別是裝有 個偏光鏡。其中一個偏光鏡在載物臺之下，稱下偏光鏡(起偏鏡)，自然光通過下偏光鏡后就變成偏光;另一個在物鏡之上的鏡筒中，稱上偏光鏡(分析鏡)。